Ми надаємо послуги у сфері інспекції напівпровідникових структур із використанням високошвидкісних камер.

Завдяки високошвидкісному сенсору Sony IMX991 (діапазон до 1,7 мкм) ми можемо бачити приховані деталі, недоступні у видимому світлі: підповерхневі дефекти кремнію, контрастні відмінності в полімерних та органічних матеріалах, розподіл вологи.

Зйомка зі швидкістю 240 кадрів/с дозволяє відстежувати ультра-швидкі процеси у реальному часі — динаміку лазерного нагрівання, утворення дефектів, поведінку розплавів при абляції чи спіканні, а також деформації у тонких плівках.

Подібне обладнання дозволяє бачити ті області, де звичайна візуальна інспекція не дає інформації — зокрема, проникнення у кремній на довжинах хвиль ~1,0–1,1 мкм, а також контраст у ІЧ-діапазоні для органіки, полімерів та води.

Окремим напрямком є швидкісна інспекція кремнієвих пластин: ми здійснюємо виявлення підповерхневих дефектів і сторонніх включень у напівпровідникових матеріалах.

Ми пропонуємо нашим клієнтам високоточну діагностику та візуалізацію у фотоніці та матеріалознавстві, яка відкриває нові можливості для контролю якості, оптимізації технологій та розробки інноваційних рішень.